急冷急熱沖擊試驗(yàn)檢測(cè)箱根據(jù)待測(cè)試樣的特殊性，三廂式靜態(tài)沖擊，既可做冷熱沖擊試驗(yàn)也可以做單獨(dú)高溫或者單獨(dú)低溫使用模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等同時(shí)可通過(guò)此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);

GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--一箱式;

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--二箱式;

滿足標(biāo)準(zhǔn)1EC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;

GB/T 2424. 13- 2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;

GB/T 2423. 22- -2002溫度變化等標(biāo)準(zhǔn)

急冷急熱沖擊試驗(yàn)檢測(cè)箱的技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃；C:-65~ 150℃。

所有高低溫沖擊試驗(yàn)箱的電源均采用：3∮5W AC380±10% 50/60HZ。

高溫室：預(yù)熱溫度范圍，RT 20℃~200℃升溫時(shí)間: 20℃~ 200℃約30min。

低溫室：預(yù)冷溫度范圍，RT~-80℃降溫時(shí)間: 20℃~-80℃約80min。

實(shí)驗(yàn)室沖擊：溫度均勻度±2.0℃。